| 词条 | 数字集成电路设计与技术 |
| 释义 | 图书信息书 名: 数字集成电路设计与技术 作 者：林丰成 李立 出版社： 科学出版社 出版时间： 2008年10月 ISBN: 9787030220301 开本： 16开 定价: 42.00 元 内容简介《数字集成电路设计与技术》是国内第一本全面、系统介绍当今数字集成电路设计技术的专门教材。作者结合自身多年理论研究和丰富的实践经验与教学经验，详细介绍了数字集成电路从RTL设计到逻辑综合生成门级网表所涉及的多方面重要工作，包括基于模块和层次化的RTL设计方法学、Verilog和VHDL的建模和逻辑设计、低功耗数字电路设计、逻辑电路的设计与验证、逻辑综合方法、可测试性设计等。《数字集成电路设计与技术》不仅涵盖了掌握数字RTL编码的基本技术和逻辑电路设计所需的重要知识，而且充分结合当前应用广泛的FPGA设计与验证、硬件仿真系统的原理与运行等问题进行深入讨论。《数字集成电路设计与技术》基本概念的讲授通俗易懂，相关内容、配套习题和实验都与实际工程紧密联系，以使读者打下坚实的工程实践基础。 《数字集成电路设计与技术》可作为“集成电路设计专业”方向工程硕士研究生教材，也可作为与集成电路设计相关的硕士研究生和高年级本科生的教材，并可供相关领域工程师参考。 图书目录丛书序 前言 第l章 数字集成电路的历史与现状 1.1 数字集成电路的历史与现状 1. 2 现代数字设计方法的发展 1.3 数字集成电路前端设计语言及后端设计软件(EDA) 1.4 数字IC的几种设计模式 1.5 数字1C设计面临的挑战 1.6 习题 参考文献 第2 章数字IC设计方法学 2.1 数字IC设计流程 2.2 层次化设计和模块划分 2.3 芯片封装和散热 2.4 CMOS工艺选择 2.5 习题 参考文献 第3章 Verilog／VHDI。硬件描述语言 3.1 HD的历史和优势 3.2 Verilog数据类型与设计结构 3.3 基本建模方法 3.4 路径延时模型 3.5 逻辑行为建模 3.6 任务与函数 3.7 习题 参考文献 第4章 HD逻辑设计 4.1 基本组合电路设计 4.2 基本时序电路设计 4.3 设计同步状态机 4.4 SRAM的设计 4.5 复杂数字逻辑设计 4.6 设计示例：UART 4.7 可综合的Verilog RTL设计 4.8 代码书写风格 4.9 习题 参考文献 第5章 低功耗数字电路 5.1 数字电路介绍 5.2 低功耗设计技术 5.3 绝热逻辑电路 5.4 学习示例 5.5 习题 参考文献 第6章 逻辑电路的设计验证 6.1 验证概述 6.2 验证平台编码风格 6.3 验证平台模块设计 6.4 验证平台结构设计 6.5 断言 6.6 验证质量评估 6.7 习题 参考文献 第7章 逻辑综合 7.1 逻辑综合概述 7.2 逻辑综合中的基本概念 7.3 逻辑综合的步骤 7.4 综合脚本实例 7.5 现代先进综合技术 7.6 习题 参考文献 第8章 可测试性设计 8.1 DFT挑战和设计方法 8.2 JTAG边界扫描 8.3 逻辑内建自测试 8.4 存储器内建自测试 8.5 自动测试模式生成 8.6 存储器电路内建自测试 8.7 习题 参考文献 第9章 FPGA设计与芯片验证 9.1 FPGA的基础知识 9.2 FPGA的基本结构 9.3 FPGA的设计流程 9.4 FPGA的开发工具 9.5 FPGA的同步设计原则 9.6 FPGA的设计优化技巧 9.7 FPGA设计实践 参考文献 第10章 基于硬件仿真系统的IC功能验证 10.1 硬件仿真器的起源 10.2 硬件仿真器和硬件仿真系统的定义 10.3 硬件仿真系统的实现原理 10.4 硬件仿真器系统，验证平台和运行方式 10.5 硬件仿真系统的编译 10.6 硬件仿真系统的运行控制和查错手段 10.7 应用实例分析 10.8 总结 10.9 习题 参考文献 |
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