1966年Ｒｏｔｈ提出的Ｄ算法，可以认为是拓扑结构测试中最经典的方法，也是最早实现自动化的测试生成算法之一。它是完备的测试算法，它可以检测非冗余电路中所有可以检测的故障。虽然它是在２０世纪６０年代提出的，而且被改正过多次，但是，许多新的测试方法都是在它的基础上发展起来的。而且一直沿用至今。

D算法在具体应用时，计算工作量很大，尤其是对大型的组合电路计算时间很长,原因是在作敏化通路的选择时其随意性太大，特别是在考虑多通路敏化时各种组合的情况太多，然而真正“有效”的选择往往较少，做了大量的返回操作。

改进的算法，如PODEM和FAN算法，有效地减小了返回次数，提高了效率。