基本信息

作 者： 于敦山 著

出 版 社： 北京航空航天大学出版社

ISBN： 9787810773089

出版时间： 2003-08-01

版　次： 1

页　数： 210

装　帧：

开　本：

所属分类： 图书>计算机与互联网>单片机与嵌入式

内容简介

《SOC设计与测试》分为设计师和测试两个部分，分别介绍了SOC设计方法和测试方法，大设计部分介绍了在设计时会遇到的问题和传统的的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核，存储器核，及模拟核的设计方法和需要注意的问题，以及SOC系统的验证方法，在测试部分，介绍SOC中逻辑核，存储器核及模拟核的测试结构与测试方法，还介绍IDDQ测试大SOC测试中的应用，最后介绍产品测试中需要注意的问题，全书内容全面，可以作为教材。对ASIC设计工程师及系统设计工程师都有较高的参考价值。