平均失效时间（Mean time of failure，MTF）：

这是衡量元器件和电路可靠性的一个参量，人们总是要求平均失效时间越长越好。

对于半导体器件和集成电路，在大电流时影响可靠性的一个重要因素就是金属电极薄膜的电迁移现象，这种情况下的平均失效时间与电流密度J和激活能Ea有关，即MTF ∝(1/J2) exp[Ea/kT]；因此为了提高可靠性，就应当降低电流密度和增大激活能[例如在Al膜中掺Si]。