男，1939年1月生于浙江诸暨市。1961年毕业于上海交通大学材料科学系。1990年赴德国技术大学边缘技术所进修传感器及TAB引线技术。英语可口译，德、日、俄语可笔译。从事微电子材料及器件科研和教学。现任河北工业大学电子工程系教授博士生导师。主讲固体物理、半导体物理、位错与点缺陷理论，现代测试技术、电子显微术及半导体传感器。在微区测试有限元理论及传感器的研究方面有所建树。论文在《物理学报》上发表2篇。在《半导体学报》上发表1篇，在《Rarernetal>上二篇。在《Reviewof scientific Instr.》（美）上发表 3篇。在《Semi condnctor sci.&Tech.》（英）上发表 2篇（有关微区薄层电阻和接触电阻的测量和行为。）在《Materials letter》（美）上发表一篇（在国际上首先指出硅中一与铁有关的缺陷能级（EC-0．32ev）。最近在传感器输出信号研究中发现电桥的零点输出电漂移现象，并提出可用于零点温漂补偿。论文一篇发表在《Sensors and Actuators》（瑞士）上。在《电子学报》上发表一篇。共有14篇论文分别入选 SCI和 EI。全部论文 70余篇。已完成《微区薄电阻测试探针技术》（入国家成果分报，已被技术监督部门认定），《压力传感器》、《双膜吸杂硅外延片及衬底片》、《半导体器件计算机辅助设计》、《集成电路生产中外延及扩散过程计算机模拟》、《智能化压力传感器》七项科研，正在进行《集成传感器与亚微未器件非线性电阻网络理论及应用》、《过渡金属化合物在半导体器件中的特殊应用》二项科研（其中国家自然科学基金2项）。著有《半导体测试技术》、《半导体技术中计算机仿真及辅助设计》及《晶体缺陷透射电子显微像分析》、《压力传感器的设计、制造及应用》（省教委基金）。译作有《半导体材料及其制备》、《扫描电子显微术与Ｘ射线显微分析》。指导一届博士生，已指导5届硕士生。曾获省市及省教委科技进步奖。传略已辑入《杰出领先世界名人录》第6辑。被邀为美国纽约科学院成员。名字已被英国物理学出版社编入世界物理学家名单。