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词条 材料分析方法第3版
释义

基本介绍

作 者:周玉 主编出 版 社:机械工业出版社

出版时间:2011-6-1

版 次:3页 数:344字 数:546000

印刷时间:2011-6-1开 本:16开纸 张:胶版纸

印 次:1I S B N:9787111342304包 装:平装

内容简介

周玉等的《材料分析方法(第3版)》主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括:X射线物理学基础、X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法、物相分析及点阵参数精确测定、宏观残余应力的测定、多晶体织构的测定、电子光学基础、透射电子显微镜、电子衍射、晶体薄膜衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、扫描电子显微镜、电子背散射衍射分析技术、电子探针显微分析、其他显微结构分析方法及实验指导。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。

《材料分析方法(第3版)》可以作为材料科学与工程学科的本科生和研究生教材或教学参考书,也可供材料成形及控制工程等其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。

目录

第3版前言

第2版前言

第1版前言

绪论

第一篇 材料X射线衍射分析

第一章 X射线物理学基础

第一节 X射线的性质

第二节 X射线的产生及X射线谱

第三节 X射线与物质的相互作用

习题

第二章 X射线衍射方向

第一节 晶体几何学简介

第二节 布拉格方程

第三节 X射线衍射方法

习题

第三章 X射线衍射强度

第一节 多晶体衍射图相的形成

第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数

第三节 洛伦兹因数

第四节 影响衍射强度的其他因数

第五节 多晶体衍射的积分强度公式

习题

第四章 多晶体分析方法

第一节 德拜-谢乐法

第二节 其他照相法简介

第三节 X射线衍射仪

习题

第五章 物相分析及点阵参数精确测定

第一节 定性分析

第二节 定量分析

第三节 点阵参数的精确测定

第四节 非晶态物质及其晶化过程的X射线衍射分析

习题

第六章 宏观残余应力的测定

第一节 物体内应力的产生与分类

第二节 X射线宏观应力测定的基本原理

第三节 宏观应力测定方法

第四节 X射线宏观应力测定中的一些问题

习题

第七章 多晶体织构的测定

第一节 极射赤面投影法

第二节 织构的种类和表示方法

第三节 丝织构指数的测定

第四节 极图的测定

第五节 反极图的测定

习题

第二篇 材料电子显微分析

第八章 电子光学基础

第一节 电子波与电磁透镜

第二节 电磁透镜的像差与分辨率

第三节 电磁透镜的景深和焦长

习题

第九章 透射电子显微镜

第一节 透射电子显微镜的结构与成像原理

第二节 主要部件的结构与工作原理

第三节 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定

习题

第十章 电子衍射

第一节 概述

第二节 电子衍射原理

第三节 电子显微镜中的电子衍射

第四节 单晶体电子衍射花样标定

第五节 复杂电子衍射花样

习题

第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析

第一节 概述

第二节 薄膜样品的制备方法

第三节 衍射衬度成像原理

第四节 消光距离

第五节 衍衬运动学

第六节 衍衬动力学简介

第七节 晶体缺陷分析

习题

第十二章 高分辨透射电子显微术

第一节 高分辨透射电子显微镜的结构特征

第二节 高分辨电子显微像的原理

第三节 高分辨透射电子显微镜在材料科学中的应用

习题

第十三章 扫描电子显微镜

第一节 电子束与固体样品作用时产生的信号

第二节 扫描电子显微镜的构造和工作原理

第三节 扫描电子显微镜的主要性能

第四节 表面形貌衬度原理及其应用

第五节 原子序数衬度原理及其应用

习题

第十四章 电子背散射衍射分析技术

第一节 概述

第二节 电子背散射衍射技术相关晶体学取向基础

第三节 电子背散射衍射技术硬件系统

第四节 电子背散射衍射技术原理及花样标定

第五节 电子背散射衍射技术成像及分析

第六节 电子背散射衍射技术数据处理

习题

第十五章 电子探针显微分析

第一节 电子探针仪的结构与工作原理

第二节 电子探针仪的分析方法及应用

习题

第十六章 其他显微结构分析方法

第一节 离子探针显微分析

第二节 低能电子衍射分析

第三节 俄歇电子能谱分析

第四节 场离子显微镜与原子探针

第五节 扫描隧道显微镜与原子力显微镜

第六节 X射线光电子能谱分析

第七节 红外光谱

第八节 激光拉曼光谱

第九节 紫外-可见吸收光谱

第十节 原子发射光谱

第十一节 原子吸收光谱

第十二节 核磁共振

第十三节 电子能量损失谱

第十四节 扫描透射电子显微镜

习题

实验指导

实验一 单相立方系物质X射线粉末相计算

实验二 用X射线衍射仪进行多晶体物质的相分析

实验三 宏观残余应力的测定

实验四 金属板织构的测定

实验五 透射电子显微镜结构原理及明暗场成像

实验六 选区电子衍射与晶体取向分析

实验七 扫描电子显微镜的结构原理及图像衬度观察

实验八 电子背散射衍射技术的工作原理与菊池花样观察及标定

实验九 电子背散射衍射技术的数据处理及其分析应用

实验十 电子探针结构原理及分析方法

附录

附录A 物理常数

附录B 质量吸收系数μl/ρ

附录C 原子散射因数f

附录D 各种点阵的结构因数F2HKL

附录E 粉末法的多重性因数Phkl

附录F 角因数1+cos22θsin2θcosθ

附录G 德拜函数?(x)x+14之值

附录H 某些物质的特征温度Θ

附录I 12cos2θsinθ+cos2θθ的数值

附录J 应力测定常数

附录K 立方系晶面间夹角

附录L 常见晶体标准电子衍射花样

附录M 立方与六方晶体可能出现的反射

附录N 特征X射线的波长和能量表

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更新时间:2024/11/15 19:34:02