词条 | 晶体衬度 |
释义 | 在扫描电子显微镜中:聚焦电子束在晶体样品表面扫描时,入射角θ连续变化,在θ角小于某组晶面的布拉格角θB的区域,入射电子受晶体原子的散射机会较多,如在样品上方安装电子检测器,可接收到较强的背散射电子信号。而在θ>θB的区域,入射电子受晶体原子散射的机会较少。电子经过晶格间的通道深入到晶体内部才发生散射,使样品上方检测到的背散射电子信号较弱,尤其对于大的变形小、结构完善的单晶样品,可获得表层100Å的电子通道花样图,图上衬度带(亮带)的方位就是相应衍射晶面的方位,亮带的宽度取决于衍射晶面θB角的大小,衬度带之间的夹角等于相应晶面之间的夹角,对其指数化,就可知道对于微区的晶体学取向及晶格完善性的资料。 |
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