作 者：谢植 王金邦
出版日期：1994-10
ISBN：781006720
包 装：平装
页 数：213
本书是在工业辐射温度测量这一重要科技领域中我国自己编写的一本很有特色的专著。由于作者在这一方面的贡献，将会有力地推动我国辐射测温技术的进一步发展。作者在阐述红外辐射各定律、红外探测器和单、双色辐射温度计原理的基础上，全面介绍了红外辐射测温中的各种干扰，尤其是关于黑体辐射源的理论和技术的论述，有很高的理论和应用价值，如对基尔霍夫理想黑体的物理模型的证明，以及作者首次提出的第二类黑体辐射源的新概念、物理模型、有效发射率的理论公式、在线发射率和全热流测量方法等。
绪言
第1章 工业生产对温度测量的需求与现状
1.1概述
1.2烧结过程对温度测量的需求
1.3高炉过程对温度测量的需求
1.4转炉过程对温度测量的需求
1.5连铸与轧制过程对温度测量的需求
第2章 红外辐射测温基础