| 词条 | 超大规模集成电路测试 |
| 释义 | 图书信息书 名: 超大规模集成电路测试 作 者：雷绍充 梁峰 出版社： 电子工业出版社 出版时间： 2008年05月 ISBN: 9787121063077 开本： 16开 定价: 45.00 元 内容简介VLSI测试与可测性设计方法学已甄成熟，诸多理论和方法也为设计和制造界广泛接受，亦成为EDA工具的基本特征。本书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。 本书主要内容包括电路测试基础，验证、模拟和仿真，自动测试生成，专用可测性设计，扫描设计，边界扫描法，随机测试和伪随机测试，内建自测试，电流测试，存储器测试，SoC测试。 本书既可作为高等院校高年级学生和研究生的专业课教材，也可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员的参考用书。 图书目录第1章 概述 第2章 电路测试基础 第3章 验证、模拟和仿真 第4章 自动测试生成 第5章 专用可测性设计 第6章 扫描设计 第7章 边界扫描法 第8章 随机测试和伪随机测试 第9章 内建自测试 第10章 电流测试 第11章 存储器测试 第12章 SoC测试 …… |
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