词条 | MC-ICP |
释义 | 简介MC-ICP-MC是一种联用的测量仪器,它首先由Walder等人于1993年引入的,主要是应用于同位素比值的测定。 仪器和原理在MC-ICP-MS中,ICP作为质谱的高温(8000K)离子源,样品在通道中进行蒸发、解离、原子化、电离等过程。离子通过样品锥接口和离子传输系统进入高真空的MS部分,MS部分为四极快速扫描仪,通过高速通道扫描分离测定所有原子,使形成的离子按质荷比(m/e)进行分离,不同的元素有不同的质荷比,扫描元素质量范围从6~260,通过高速双通道分离后的离子到达MC部分,MC部分是一组法拉第杯接收器,根据元素的分子离子峰进行定性定量的分析。 工作参数炬管位置 雾化器流速 碰撞流速等 参数的影响等离子体炬管位置:即等离子体炬管与采样锥之间的距离,它显著影响仪器灵敏度,等离子体核心位置的温度约为8000K,而其边缘的温度约为4000K,当等离子体的火焰遇到采样锥的冷表面时,会形成一个“边界层”,这个边界层中的氧化物分子含量很高。如果等离子体采样锥距离较远,就会有大量氧化物被提取;如果采样锥距离等离子体核心位置过近,气溶胶就会被提取。从而影响到测量结果的准确度。 雾化器流速:它不仅影响到分析物在等离子体中的停留时间,而且影响氧化物、双电荷离子和多原子离子以及分子干扰物的产率。当雾化器流速过高时,氧化物的量会增加;当流速过低时,双电荷离子的量会增多。 |
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