| 词条 | X射线荧光光谱仪 |
| 释义 | X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm，高40mm。 仪器类别0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度计 指标信息1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100% 4.分析软件是Philips公司（现为PANalytical）最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时，RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03% 附件信息循环水致冷单元，计算机 P10气体瓶空气压缩机 分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。 波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 能量色散X射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。 非色散谱仪非色散谱仪不是采用将不同能量的谱线分辨开来，而是通过选择激发、选择滤波和选择探测等方法使测量分析线而排除其他能量谱线的干扰，因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品。 全反射X射线荧光如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2（图2.20右图），即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。 X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定； 荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便； 分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差； 分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。 图书《X射线荧光光谱仪》作 者： 罗立强，詹秀春，李国会 编著 出 版 社： 化学工业出版社 出版时间： 2008-1-1 字 数： 237000 页 数： 188 开 本： 16开 纸 张： 胶版纸 I S B N ： 9787122007179 包 装： 精装 所属分类： 图书 >> 工业技术 >> 仪表工业 >> 仪器 定价：￥35.00 内容简介本书是“分析仪器使用与维护丛书”之一。 本书分十二章介绍了X射线荧光光谱分析的原理，仪器主要部件，定性与定量分析方法，基体校正与数据处理方法，样品制备技术，具有共性的仪器校正方法、日常维护知识和故障判断原则等。内容丰富、新颖、翔实，在探测器技术、基体校正、样品制备、仪器维护等章节具有特色。 本书可供X射线荧光光谱分析工作者学习参考，同时也可作为高等学校与仪器分析相关专业师生的参考书。 目录第一章 绪论 第一节 X射线荧光光谱的产生及其特点 第二节 X射线荧光分析技术的新应用 一、在生物、生命及环境领域中的应用 二、在材料及毒性物品监测中的应用 第三节 X射线荧光光谱仪研制进展 参考文献 第二章 基本原理 第一节 特征X射线的产生与特性 一、特征X射线 二、特征谱线系 三、谱线相对强度 四、荧光产额 第二节 X射线吸收 一、X射线衰减 二、吸收边 三、吸收跃变 四、质量衰减系数的计算 第三节 X射线散射 一、相干散射 二、非相干散射 第四节 X射线荧光光谱分析原理 第五节 X射线衍射分析 参考文献 第三章 激发源 第一节 常规X射线光管 一、光管结构与工作原理 二、连续X射线谱 三、特征X射线谱 四、光管特性 第二节 液体金属阳极X射线光管 第三节 冷X射线光管 第四节 单色与选择激发 一、滤光片 二、二次靶 第五节 同位素源 第六节 同步辐射光源与粒子激发 第七节 聚束毛细管X射线透镜 第八节 X射线激光光源 参考文献 第四章 探测器 第一节 波长色散探测器 一、流气式气体正比计数器 二、NaI闪烁计数器 三、波长色散探测器的逃逸峰 第二节 能量探测器 一、能量探测原理 二、能量探测器组成与特性 三、能量探测器的逃逸峰 第三节 新型能量探测器 一、Ge探测器 二、Si?PIN探测器 三、Si漂移探测器（SDD） 四、电耦合阵列探测器（CDD） 五、超导跃变微热量感应器（TES） 六、超导隧道结探测器（STJ） 七、CdZnTe探测器 八、钻石探测器（CVD?D） 九、无定形硅探测器（A?Si） 第四节 各种探测器性能比较 一、波长色散与能量色散能力 二、探测器分辨率比较 三、探测器的选用 参考文献 第五章 X荧光光谱仪 第一节 波长色散X射线荧光光谱仪 一、X射线光管、探测器与光谱仪结构 二、分光晶体及分辨率 三、脉冲放大器和脉高分析器 第二节 能量色散X射线荧光光谱仪 第三节 同位素源激发X射线荧光光谱仪 第四节 偏振激发X射线荧光光谱仪 第五节 全反射X射线荧光光谱仪 第六节 同步辐射X射线荧光光谱仪 第七节 聚束毛细管透镜微束XRF光谱仪 参考文献 第六章 定性与定量分析方法 第一节 定性分析 第二节 定量分析 一、获取谱峰净强度 二、干扰校正 三、浓度计算 第三节 数学校正法 第四节 实验校正方法 一、标准化 二、内标法 三、标准添加法 四、散射线内标法 第五节 实验校正实例——散射线校正方法 一、散射效应与利用 二、滤光片对Compton峰和分析谱线的影响 三、准直器直径对谱线的影响 四、Compton峰位随滤光片材料的原子序数增加而产生漂移 参考文献 第七章 基本校正 第八章 分析误差和统计不确定 第九章 XRF中的化学计量学方法和应用 第十章 样品制备 第十一章 X射线荧光光谱仪的特性与参数选择 第十二章 仪器检定、校正与维修 |
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