| 词条 | 棱镜反射光技术与工程应用 |
| 释义 | 基本信息出版社: 国防工业出版社; 第1版 (2009年3月1日) 丛书名: 现代学学技术丛书 平装: 116页 正文语种: 简体中文 开本: 16 ISBN: 9787118062014 条形码: 9787118062014 产品尺寸及重量: 25.8 x 18 x 0.8 cm ; 259 g ASIN: B0022NGP84 内容简介《棱镜反射光技术与工程应用》以消失波特性、棱镜表面等离子体共振特性、受阻全内反射特性和电介质薄膜增强古斯一汉欣位移理论为基础，以棱镜反射光技术与应用为主体内容。包括：基于棱镜反射光的特性，重点研究自聚焦透镜在棱镜镜面反射光方向作准直耦舍系统的附加耦合损耗，为研制棱镜型光纤传感器选择棱镜材料提供了理论指导；基于洛伦兹电子论和菲涅耳公式，研究棱镜反射光原理及其在测量溶液浓度方面的应用；讨论表面等离子体共振传感技术在测量溶液浓度、指纹识别和表面形貌探测方面的应用；研究增强古斯一汉欣位移的方法及其在测量溶液浓度和研发相关光学器件方面的应用。 目录第1章 绪论 1.1 研究的内容、目的和意义 1.2 棱镜反射光在测量溶液浓度中的应用 1.2.1 测量溶液浓度的现状 1.2.2 基于表面等离子体共振技术测量溶液浓度的发展概况 1.2.3 电介质薄膜增强古斯一汉欣位移的研究现状和发展趋势 1.3 双棱镜结构中受阻全内反射技术的研究进展 第2章 自聚焦透镜在棱镜型光学传感器中的应用研究 2.1 自聚焦透镜的基本概念与基本理论 2.1.1 自聚焦透镜的物理基础 2.1.2 自聚焦透镜的工作原理 2.2 自聚焦透镜准直系统的装配误差及其引起的附加耦合损耗分析 2.2.1 自聚焦透镜的长度与焦距 2.2.2 自聚焦透镜准直系统的装配误差类型 2.2.3 自聚焦透镜准直系统的装配误差引起的附加耦合损耗分析方法 2.3 自聚焦透镜用于准直系统时附加耦合损耗的研究 2.3.1 自聚焦透镜作为准直透镜的附加耦合损耗 2.3.2 自聚焦透镜间加入转向直角棱镜后的附加耦合损耗 2.3.3 自聚焦透镜在棱镜镜面反射方向作准直耦合系统的附加耦合损耗 第3章 棱镜反射光测量溶液浓度理论和方法的研究 3.1 平面光波在界面反射与折射的基本概念和基本理论 3.1.1 反射定律与折射定律 3.1.2 菲涅耳公式 3.2 溶液的浓度与其折射率关系的研究 3.2.1 溶液的浓度与其折射率之间的线性关系的理论模型 3.2.2 食盐溶液的浓度与其折射率关系的实验模型 3.2.3 白糖溶液的浓度与其折射率关系的实验模型 3.3 基于菲涅耳公式测量溶液浓度的简单模型 3.3.1 基于菲涅耳公式测量溶液浓度的特点 3.3.2 基于菲涅耳公式测量溶液浓度计算模型的建立方法 3.3.3 基于菲涅耳公式测量溶液浓度的计算模型的实验装置 3.3.4 基于菲涅耳公式测量溶液浓度的计算程序 第4章 棱镜型表面等离子体共振传感技术与应用研究 4.1 平面光波在界面的全反射特性与消失波的基本概念与基本理论 4.1.1 平面光波的全反射特性 4.1.2 消失波的基本概念及其特点和应用 4.2 金属薄膜的基本特性 4.2.1 金属薄膜光学特性的一般特点 4.2.2 银膜和金膜在应用中的特点 4.2.3 透明基片上的单层吸收膜的反射特性 4.3 表面等离子体共振传感器的基本概念和基本理论 4.3.1 等离子体与表面等离子体的概念 4.3.2 表面等离子体共振效应的基本概念 4.3.3 表面等离子体波共振的三种解释 4.4 棱镜型表面等离子体共振传感器的理论与实验研究 4.4.1 棱镜型SPR传感器金属膜的厚度 4.4.2 棱镜折射率对SPR传感器共振角的影响 4.4.3 溶液浓度对SPR传感器共振角的影响 4.4.4 光强度调制型SPR传感器测量溶液浓度方法的研究 4.4.5 棱镜型SPR传感器的灵敏度与影响因数 4.5 保偏光纤及其在棱镜型SPR传感器中的应用研究 4.5.1 单模光纤的理想偏振特性与双折射效应 4.5.2 低双折射单模光纤 4.5.3 保偏光纤的基本原理 4.5.4 保偏光纤的结构特点 4.5.5 保偏光纤的参数与应用 4.5.6 保偏光纤的精确定位方法 4.5.7 温度对保偏光纤的影响 4.5.8 棱镜型保偏光纤SPR传感器 4.6 棱镜型表面等离子体共振成像技术及其应用 4.6.1 棱镜型SPRI技术的理论基础 4.6.2 棱镜型SPRI技术在指纹采集系统中的应用 4.6.3 棱镜型SPRI技术在表面形貌探测系统中的应用 第5章 电介质薄膜增强古斯一汉欣位移方法与应用研究 5.1 古斯一汉欣位移的基本概念和基本理论 5.1.1 古斯一汉欣位移的概念 5.1.2 古斯一汉欣位移的产生机理 5.1.3 古斯一汉欣位移与偏振态的关系 5.1.4 古斯一汉欣位移的特点 5.2 光电位置传感器及其在测量GH位移中的应用 5.2.1 一维PSD的结构和工作原理 5.2.2 PSD在测量GH位移中的应用研究 5.3 电介质薄膜的基本特性 5.3.1 电介质薄膜光学特性的一般特点 5.3.2 氟化镁介质薄膜和二氧化硅介质薄膜在应用中的特点 5.3.3 单层电介质膜的反射特性 5.4 电介质薄膜增强GH位移的理论和方法研究 5.4.1 单反射棱镜型电介质薄膜增强GH位移的理论和方法 5.4.2 双反射棱镜型电介质薄膜增强GH位移的理论和方法 5.5 电荷耦合器件及其在测量GH位移中的应用研究 5.5.1 CCD工作原理 5.5.2 CCD特性参数 5.5.3 CCD性能与特点 5.5.4 线阵CCD-TCD1251UD的应用 5.5.5 双反射棱镜型电介质薄膜增强GH位移的实验装置 5.6 双反射棱镜型薄膜增强GH位移测量溶液浓度理论和方法研究 5.7 介质薄膜增强双棱镜结构受阻全内反射光束GH位移的方法 5.7.1 双棱镜结构的FTIR理论模型 5.7.2 电介质膜增强双棱镜结构FTIR光束GH位移的方法 第6章 结论与建议 6.1 主要结论 6.2 进一步研究的建议 附录 1.TE波最大GH位移的推导过程 2.波最大GH位移的推导过程 3.T波基本GH位移的推导过程 参考文献 |
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