| 词条 | 离线参数化理论与方法 |
| 释义 | 基本信息出版社: 中国科学技术大学出版社; 第1版 (2004年5月1日) 平装: 194页 正文语种: 简体中文 开本: 16 ISBN: 7312016790 条形码: 9787312016790 产品尺寸及重量: 23.6 x 16.4 x 1 cm ; 281 g ASIN: B0011B10H4 内容简介本书对离线参数化的基本理论与方法作了较为系统的论述。全书共分7章，内容包括绪论、参数化基本总是图元约束模型、尺寸关联约束识别、约束求解、图元参数化及其应用。书中介绍的很多算法都是作者近几年发表的研究成果。 本书适合于从事计算机、机械、电子等行业的广大软件开发人员，以及高等院校高年级本科生、研究生阅读和参考。 作者简介董玉德，男，1992年于上海华东大学获硕士学位，2000年于浙江大学获博士学位，2001年1月在中国科学技术大学信息学院晋升副教授，2003年5月在合肥工业大学完成博士后研究。现任职于合肥工业大学数字化设计与制造省重点实验室，硕士研究生导师。多年来一直从事计算机辅助设计与图形学等方面的教学与科研工作，近年来主要从事工程图形的智能识别与理解、计算机支持的协同设计等方面的研究。主持或参与国家自然科学基金项目、国家863项目和企业联合项目20余项。获国家教委高校科技进步一等奖一项。有著作4本，发表论文40余篇，其中EI收录10篇。 |
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