侦破是判断一组测量数据中是否存在过失误差；识别是判断在一组含有过失误差的测量数据中具体是哪个（或哪些）测量数据中含有过失误差，即是确定过失误差的位置。

过失误差侦破方法大致分为三类：

(1) 理论分析法：对各种可能导致过失误差的因素进行理论分析并作相应处理。该方法仅从理论上做出分析，极有可能遗漏一些造成过失误差的潜在的因素，不易于广泛使用。

(2) 硬件冗余法：借助于各种具有不同测量精度的方法对同一过程变量进行测量，然后比较，判断过程是否存在过失误差。该方法对于少数重要的测量变量是可行的，然而对于众多变量进行逐一的测量比较则会造成大量财力、物力的负担，因此也不适合推广使用。

(3) 统计检验法：以数理统计理论为基础，利用测量数据的统计特性进行检验侦破。相比前两种方法，该方法只针对数据本身，对现有硬件设备没有过多要求，便于在线运行，而且该方法具有普遍性，所以得到了广泛的研究和应用。