X射线荧光分析仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源，激发样品产生荧光X射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。

仪器简介

检测模式

应用领域(采矿勘探与矿石检测 环境监测与疾病预防 考古业与艺术品鉴定)

怎样正确使用X荧光分析仪(一、操作方面带来误差的因素 二、仪器方面的误差因素 三、试样本身的误差因素 四、避免误差的措施)

仪器简介

该仪器通常能够一次性检测出多达25多种矿石及金属元素，具体包括：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, W, Pb, Bi。如需检测某些其他种类的金属元素，可以根据实际应用情况对机器进行相应的调整。

检测模式

1、能够对矿石、矿渣、土壤、沉积物以及其他类似的样品进行快速的金属元素含量分析。无论是进行原地检测还是非原地检测，功能强大的计算软件能够自动消除由于不同样品的材质差异所造成的偏差，从而使操作者仅需将仪器探测头直接接近样品便可进行检测，而无需其他任何数据输入或者进行再次校准。根据对检测精度的不同要求，测试时间仅需数秒到数分钟。较适合于待测金属元素的含量小于1%的情况。

2、能够快速分析矿石样本、精矿、矿渣的金属元素成分。允许用户通过运用特殊校正因子来进一步提高检测精度。

应用领域

采矿勘探与矿石检测

在现场快速、低成本对照直接取样不到实验室进行分析，进行矿石品位鉴定。即时在现场进行元素鉴别以及有效筛选。检测矿石种类可分析从磷矿（P）到铀矿（U）之间的所有83种（元素）金属矿：钾矿、钙矿、钛矿、钒矿、铬矿、锰矿、铁矿、钴矿、镍矿、铜矿、锌矿、锆矿、铌矿、钼矿=锡矿、锑矿、铅矿、铪矿、钽矿、钨矿、铼矿、铋矿等。非金属矿：磷矿、硫矿、氯矿、砷矿、硒矿、溴矿、碘矿。贵重金属矿：金矿、铂矿、银矿、钯矿、铑矿、铈矿、钌矿、镧矿、钌矿、铕矿。通过对输送料、精矿、矿渣进行现场分析以确定/跟

踪提炼或者浓缩过程的有效性。通过实时就地分析多个样本，实现对开采计划进行指导，有效地管理挖掘、爆破工作。在现场确定土壤、沉积物或者钻孔样本的地质成分，以有效控制勘探成本。

环境监测与疾病预防

土地现场的污染金属成分、污染模式、污染边界的迅速调查与测量Innov-X手持式XRF分析仪在土壤中色金属成分检测方面符合EPA Method 6200。在空气过滤介质、灰尘抹布的含铅方面符合NIOSH Method 7702，OSHA Methods OSSAI,OSSI。污染水、废水中的重金属宛然成分、污染模式、污染边界的迅速调查与测量。现场监测RCRA所涉及的金属和优先控制的污染金属。

原土地、污染水、废水、等有害物质的现场处置最小化处理并给污染控制、补救方法的深度分析提供理论依据。因环境污染而导致的疾病与很多重金属元素有关，如癌症（Ni,Ci）肾病（As,Pb）肝病（As，Cu）、肺尘症（Fe）哮喘(Ni)、帕金森氏综合症（Mn）。

考古业与艺术品鉴定

XRF在过去的50年来一直被用来勘测考古材料和历史材料，尽管有多种光谱设备可选择，但是只有便携式工具才可以真正达到无损检测，找也是XRF技术最吸引人的地方，由于可在现场工作，事实上它适应任何类型和形状的物体进行检测。

油品分析与质量检查：可分析各类油品众所含金属成分种类及含量，帮助您购买到质量合格的各类油品。

合金测试与材料识别：对于飞机、轮船、机车、汽车、潜艇、宇宙飞船、采矿设备等各种转运部件，通过检测润滑油中的磨损金属粉末的种类及含量，确定部件是否存在安全隐患，避免重大安全事故的发生。

怎样正确使用X荧光分析仪

作为一种质量检测手段，我国大，中型水泥厂（新型干法）几乎都配套使用了X射线荧光分析仪。X射线荧光分析过程中产生误差的原因主要有操作方面、仪器方面、以及试样本身等三方面因素。

一、操作方面带来误差的因素

1、粉磨时未设定好粉磨时间和压力，达不到要求的粉磨粒度或相应的料度分布。

实验表明当粉磨时间短于试验设定时间，测定结果就会产生波动。同时，粉磨时未按规定加适量助磨剂或所加助磨剂中含有所要分析的元素，都会给测定结果带来较大影响。磨头和磨盘里留有前期样品或被其它物质污染），结果也会产生误差。

2、压片时，未设定好时间和压力。

压力效果不好或压片时样品布入不均匀而产生了样品的堆积分布不均，或压片板（压片头）不洁净（或上面粘有前期样品）等，都会影响分析结果。

3、制样未保护好，制样装入试样盒的位置不当，结果给分析带来误差。

制样未保护好有两层含义：A.未保护好制样光洁度。如用手指摸分析面、或用手指甲划、用口吹、用湿毛巾擦分析面等；B.制样在空气中放置太久，使分析面与空气中物质发生了物理化学变化。制样装盒位置不当，把测样片装倒了或测样片表面与试样盒表面成一倾斜角等，都会影响到射线管与分析面的距离，从而产生误差。

4、荧光分析中，由于分析面上的样品灰未除掉，久之影响到仪器真空度。

或由于操作者粗心，分析程序选错，如测生料时用上测熟料的分析曲线或用了测石灰石的曲线，显然结果不正确。

二、仪器方面的误差因素

1、压片板（或压片头）不光洁，导致分析面不光滑，从而影响测量结果。

2、光路真空度不合适，分光晶体、滤光片选择不佳，使各种射线产生干扰，影响分析。

3、X射线管电压、电流不稳定，从而产生结果波动。

4、随着时间的延长，X光管内部元件尺寸位置变化引起初级X射线强度的变化，或X射线管阳极出现斑痕，靶元素在窗口沉积，给分析结果带来误差。

5、温度的变化，引起分光晶体晶面间距变化，从而影响分光效率。正比计数管高压漂移，温度变化引起管内气体成分变化，影响放大倍数。

6、电子电路的漂移，计数的统计误差，检测过程的时间损失引入的计数误差等。

7、气体的压力、氮气、甲烷气体的流量、温度等辐射通道条件的变化，都会影响光路中气体对X射线的吸收。因此，气瓶的减压阀一旦调好，不要随意再动，特别是更换新气时，一定要尝试着多次调气压，否则，由于气流、气压不稳，使结果产生误差。

三、试样本身的误差因素

1、试样易磨性。有的试样易磨性较差，对测定构成影响。

2、试样成分。有的试样基本组成成分与标准试样组成成分不一致，也会影响测定结果。

3、基体效应。基体中其它元素对分析元素的影响，包括吸收和增强效应，吸收效应直接影响对分析元素的激发和分析元素的探测强度。增强效应使分析元素特征辐射增强。

4、不均匀性效应。X射线强度与颗粒大小有关，大颗粒吸收大，小颗粒吸收小，这是试样粒度的影响。

5、谱线干扰。各谱线系中谱线产生重叠、干扰，还有来自不同衍射级次的衍射线之间干扰。

四、避免误差的措施

1、应将样品磨细、压实以减少试样的不均匀性。

2、选择无干扰的谱线、降低电压至于扰元素激发电压以下，选择适当分光晶体、计数管、准直器或调整脉冲高度分析器、提高分辩本领，在分析晶体和探测器之间放置滤光片，滤去或减弱干扰谱线。

3、严格按仪器设备管理办法安装、调试好仪器设备，避免仪器误差。

4、严格按照操作规程认真操作，避免人为的操作误差。