词条 | 穿透硅通孔技术 |
释义 | 简介穿透硅通孔技术,一般简称硅通孔技术,英文缩写为TSV(through silicon via)。 它是三维集成电路中堆叠芯片实现互连的一种新的技术解决方案。由于硅通孔技术能够使芯片在三维方向堆叠的密度最大、芯片之间的互连线最短、外形尺寸最小,可以有效地实现这种3D芯片层叠,制造出结构更复杂、性能更强大、更具成本效率的芯片,成为了目前电子封装技术中最引人注目的一种技术。 原理如下图芯片和存储器件垂直地堆叠起来。这样所获得的“三明治”结构能够降低总的芯片封装尺寸,并加快芯片不同功能之间的数据流传输速度。 优势①缩小封装尺寸; ②高频特性出色,减小传输延时、降低噪声; ③降低芯片功耗,据称,TSV可将硅锗芯片的功耗降低大约40%; ④热膨胀可靠性高。 |
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