北京朗伯特光电技术开发研究所创建于1995年，是由中国计量科学研究院光学计量研究所退休的研究员和高级工程师为主体的人员组成，对光学测量技术具有较高的理论水平和较强的科研能力和丰富的实践经验。我所成立以来，为满足市场需求，开发出一系列具有自主知识产权、独立创新的逆反射系数测量仪；分别有NFZ型逆反射标志测量仪；NFT型逆反射突起路标测量仪；NFX型逆反射标线测量仪。为适应交通工程和城市建设及高速公路方面对反光标志（膜）和反光布等快速方便测量需要，又开发了一种新型手持式BNFZ型逆反射标志测量仪。

北京朗伯特光电技术开发研究所研制的一系列逆反射测量仪主要用于实验室、生产现场、质量监督、工程施工、监理和科研等部门。为了加强对逆反射材料等产品质量的监督和控制（诸如反光膜、反光布、突起路标、道路标线），逆反射仪主要用于对逆反射材料的逆反射系数、逆反射发光强度系数等光度特性的测量。

北京朗伯特光电技术开发研究所研制的系列逆反射测量仪的几何条件和光谱条件符合国际标准ISO 3864（1984）和国际照明委员会（CIE）NO.54技术文件规定；并符合我国国家标准GB/T 18833－2002；GB/T 16311－2005；GB/T 3978－1994；GB/T 3979－1997和交通行业标准JT/T 390－1990；JT/T 612－2004及逆反射测量仪检定规程JJG（交通）－059的规定；同时还参照了其他国家标准：如ASTM E808－E811（2001，2002）；D 4061－94（Reapproved 2000）及E 1696－01；BS EN 471－2003；DIN 67502－1994规定。其量值与国际上相一致。十多年来，北京朗伯特光电技术开发研究所研制生产的逆反射测量仪销售全国各地的有关生产单位，交通监理监督部门和单位，并销往美国、英国、新加坡、印度等国外，信誉良好。