作 者： 卓尚军 等 著丛 书 名：出 版 社： 上海科学技术出版社ISBN：9787547805077出版时间：2010-11-01版 次：1页 数：379装 帧：精装开 本：32开所属分类：图书 > 科学与自然 > 化学
《X射线荧光光谱的基本参数法》是X射线荧光光谱分析领域专门讲述基本参数法的第一本书。书中，作者结合自己的研究成果和实践经验，系统而详细地介绍了X射线荧光光谱分析中的基本参数法的基本原理、方法中用到的各种基本参数、理论荧光强度计算、散射对理论荧光强度的影响、多层膜样品中荧光强度计算的问题、基本参数法的实现和应用实例，书末还列出了重要的基本参数。
本书可供从事X射线荧光光谱研究与实际分析的科研和技术人员阅读，也可作为X射线荧光光谱分析或相关专业教师和研究生的参考读物。