| 词条 | 专利计量与专利制度 |
| 释义 | 基本信息出版社: 大连理工大学出版社; 第1版 (2008年11月1日)丛书名: 知识计量与知识图谱丛书 平装: 160页 正文语种: 简体中文 开本: 16 ISBN: 7561144989, 9787561144985 条形码: 9787561144985 产品尺寸及重量: 22.6 x 15.2 x 1.2 cm ; 281 g ASIN: B001N6R77Y 内容简介《专利计量与专利制度》是基于知识计量的博士学位论文中精选出来，经过进一步补充加工而成的学术专著。从中可以看到作者在著作中通过一幅幅知识图谱或表格的解读，形象地展示出某一门学科的学术前沿、代表人物和演化图景。《专利计量与专利制度》具有学科前沿性，数据完整性，方法先进性，内容创新性的特点。《专利计量与专利制度》适合学术界的广大研究者和管理者，尤其是对知识计量和知识图谱有兴趣的读者。 本书是基于知识计量的博士学位论文中精选出来，经过进一步补充加工而成的学术专著。从中可以看到作者在著作中通过一幅幅知识图谱或表格的解读，形象地展示出某一门学科的学术前沿、代表人物和演化图景。本书具有学科前沿性，数据完整性，方法先进性，内容创新性的特点。本书适合学术界的广大研究者和管理者，尤其是对知识计量和知识图谱有兴趣的读者。 作者简介杨中楷，男，1977年4月生。2007年毕业于大连理工大学，获管理学博士学位，研究方向为科技管理、专利计量学与科学知识图谱理论及方法应用。现任教于大连理工大学科技伦理与科技管理研究中心，网络-信息-科学-经济计量实验室。 |
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