图书信息

内容简介

目录

前言

图书信息

作　者： 《中国科学院研究生院教材：现代无机材料组成与结构表征》编写组 编

丛 书 名：出 版 社： 高等教育出版社ISBN：9787040199468出版时间：2006-12-01版　次：1页　数：496装　帧：平装开　本：16开所属分类：图书 > 科技 > 一般工业技术

内容简介

《现代无机材料组成与结构表征》是以中国科学院上海硅酸盐研究所使用多年的研究生教材为基础编写的。全书共有八章，内容包括：原子吸收及发射光谱分析、X射线荧光光谱分析、辉光放电质谱分析、热分析、x射线衍射分析、透射电子显微分析、扫描俄歇电子能谱分析以及电子探针、扫描电镜显微分析等。书中系统地介绍了常用大型仪器的特点、结构、原理、分析方法的理论基础、最新实验技术及在材料研究中的应用。作者将数十年对先进陶瓷材料的研究结果和分析经验以应用实例的方式介绍给读者，具有较强的参考价值。

《现代无机材料组成与结构表征》可供材料及相关学科的研究生、大学本科生及广大的科技人员参考。

目录

第1章 原子吸收及发射光谱分析

1．1 原子吸收光谱法（AAS）

1．1．1 火焰原子吸收光谱法（FAAS）

1．1．2 石墨炉原子吸收光谱法（GFAAS）

1．2 电感耦合等离子体发射光谱法（1CP—OES）

1．2．1 ICP—OES仪器基本结构

1．2．2 ICP—OES的特点

1．2．3 ICP炬焰的形成

1．2．4 ICP的装置和炬焰结构

1．2．5 ICP激发机理

1．2．6 ICP光源的分析特性

1．2．7 高频电源

1．2．8 进样装置

1．2．9 ICP炬管

1．2．10 ICP—OES光学系统和检测系统

1．2．11 ICP—OES的干扰和干扰消除

1．2．12 样品分析技术

1．3 FAAS、GFAAS和ICP—OES性能比较

参考文献

第2章 x射线荧光光谱分析

2．1 引言

2．2 x射线的物理学基础

2．2．1 X射线荧光的产生

2．2．2 x射线与物质的相互作用

2．2．3 x射线荧光的激发因子

2．3 X射线荧光谱仪

2．3．1 波长色散x射线荧光光谱仪

2．3．2 能量色散x射线荧光光谱仪

2．3．3 全反射x射线荧光光谱仪（TXRF）

2．4 定性和半定量分析

2．4．1 概述

2．4．2 定性分析

2．4．3 半定量分析

2．4．4 实际样品半定量分析结果举例

2．5 定量分析

2．5．1 XRF的定量分析基础

2．5．2 元素间的吸收一增强效应

2．5．3 克服或校正元素间吸收一增强效应的方法概述

2．5．4 经验影响系数法

2．5．5 基本参数法

2．5．6 理论影响系数法

2．5．7 小结

2．6 样品制备

2．6．1 概述

2．6 ，2固体样品的制备

2．6．3 粉末样品及粉末压片的制备

2．6．4 熔融样品的制备

2．6．5 薄样的制备

2．7 应用实例

2．7．1 镍基、铁基和钴基合金的定量分析

2．7．2 地质样品中多元素分析

2．7．3 PZNT晶体主量元素含量分析

参考文献

第3章 辉光放电质谱分析

3．1 引言

3．2 辉光放电基本原理

3．2．1 辉光放电

3．2．2 辉光放电的溅射和电离

3．2．3 辉光放电质谱

3．3 仪器．

3．3．1 离子源

3．3．2 质量分析器

3．3．3 检测系统

3．4 辉光放电质谱分析及其特点

3．4．1 样品制备与预处理

3．4．2 分析参数的选择与分析过程

3．4．3 半定量和定量分析

3．4．4 分析特点和性能比较

3．5 应用

3．5．1 金属及半导体材料分析

3．5．2 非导体材料分析

3．5．3 深度分析

参考文献

第4章 热分析

4．1 热分析的定义

4．2 热分析的物理基础

4．2．1 基本概念和基本定律

4．2．2 热力学基本定律

4．3 物质受热过程中发生的变化

4．3．1 热物理性质变化

4．3．2 热量传递的一般规律

4．4 热分析方法

4．4．1 热重法

4．4．2 差热分析法

4．4．3 差示扫描量热法

参考文献

第5章 X射线衍射分析

5．1 X射线在晶体中的衍射

5．1．1 晶体的x射线衍射和布拉格定律

5．1．2 衍射线的强度

5．1．3 倒易点阵

5．1．4 倒易点阵和晶体的衍射方向

5．2 X射线物相分析

5．2．1 物相的定性分析

5．2．2 物相的定量分析

5．3 衍射图谱的指标化和晶胞参数的精确测定

5．3．1 衍射图谱的指标化和晶胞参数精确测定的意义

5．3．2 衍射数据指标化和晶胞参数精确测定的方法

5．3．3 用标准样对比消除误差的方法

5．3．4 未知相衍射线的指标化

5．3．5 x射线衍射线条的指标化和晶胞参数的精密测定（已知近似晶胞参数）

5．3．6 晶胞中分子数的求算

5．3．7 衍射数据指标化的可靠性评价

5．4 Rietveld方法及其在结构分析、定量相分析中的应用

5．4．1 粉末衍射法结构解析的困难和全谱拟合结构精修思想（Rietveld方法）的提出

5．4．2 全谱拟合的理论要点

5．4．3 利用Rietveld方法进行结构分析的实例

5．4．4 利用Rietveld方法进行定量相分析的实例

参考文献

第6章 透射电子显微分析

第7章 扫描俄歇电子能谱分析

第8章 电子探针、扫描电镜显微分析

参考文献

·查看全部>>

前言

在中国科学院研究生院和高等教育出版社的共同努力下，凝聚着中国科学院新老科学家、研究生导师们多年心血和汗水的中国科学院研究生院教材面世了。这套教材的出版，将对丰富我院研究生教育资源、提高研究生教育质量、培养更多高素质的科技人才起到积极的推动作用。

作为科技国家队，中国科学院肩负着面向国家战略需求，面向世界科学前沿，为国家作出基础性、战略性和前瞻性的重大科技创新贡献和培养高级科技人才的使命。中国科学院研究生教育是我国高等教育的重要组成部分，在新的历史时期，中国科学院研究生教育不仅要为我院知识创新工程提供人力资源保障，还担负着落实科教兴国战略和人才强国战略，为创新型国家建设培养一大批高素质人才的重要使命。

集成中国科学院的教学资源、科技资源和智力资源，中国科学院研究生院坚持教育与科研紧密结合的“两段式”培养模式，在突出科学教育和创新能力培养的同时，重视全面素质教育，倡导文理交融、理工结合，培养的研究生具有宽厚扎实的基础知识、敏锐的科学探索意识、活跃的思维和唯实、求真、协力、创新的良好素质。