超声波数显测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。

超声波数显测厚仪(技术参数)

数显薄膜测厚仪(产品用途： 技术指标：)

超声波数显测厚仪

可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。

技术参数

1.显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

2.测量范围：0.75～300mm(钢中)，公制与英制可选择；

3.声速范围：1000～9999 m/s：

4.分 辨 率：0.1mm

5.示值精度： ±(1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度

6.测量周期：单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒；

7.存储容量：可存储20组(每组最多99个测量值)厚度测量数据。

8.工作电压：3V(2节AA尺寸碱性电池串联)

9.持续工作时间：约100小时(不开背光时)

10.外形尺寸：150×74×32 mm 11.整机重量：245g

数显薄膜测厚仪

产品用途：

数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

技术指标：

1.测量范围：（0-25）mm

2.分辨率：0.001mm

3.电源：氧化银电池SR44

4.工作温度：0℃～+40℃

5.储运温度：-20～+70℃

6.相对湿度：≤80%