X射线衍射分析原理与应用

简介

目录

X射线衍射分析原理与应用

作者： 刘粤惠 刘平安 定价： ¥ 25.00 元

出版社： 化学工业出版社 出版日期： 2003年10月

ISBN： 7-5025-4830-0 开本： 32 开

类别： 分析化学及仪器 页数： 页

简介

本书在对X射线衍射分析原理简单介绍基础上，选出了许多有代表性的应用实例，重点介绍X射线分析法在新型材料研究方面的应用。全书共10章。第1章为概述。第2章至第5章为X射线衍射分析法基础理论部分。第6章、第7章为X射线衍射物相定性和定量分析方法。第8章为衍射系统消光概念及应用。第9章为应用实例。第10章为Rietveld方法简介。

目录

第1章

概述

1．1

材料分析表征方法简述

1．2

x射线衍射分析技术的发展及现状

1．3

x射线应用技术简介第2章

x射线的产生及性质

2．1

x射线的性质

2．2

x射线的产生

2．3

x射线谱

2．4

x射线与物质的相互作用第3章

x射线衍射原理

3．1

晶体学基础

3．2

x射线衍射原理

3．3

x射线衍射方程

第4章

x射线衍射方法

4．1

粉晶体射仪法

4．2

其他x射线衍射仪第5章

x射线衍射数据

5．1

衍射方向

5．2

衍射强度

5．3

衍射数据的确定和表示

5．4

衍射线分离第6章

x射线物相定性分析

6．1

概念与原理

6．2

标准衍射数据资料简介

6．3

物相分析方法及步骤第7章

x射线物相定量分析

7．1

物相定量分析原理

7．2

物相定量分析方法

第8章

衍射系统消光概念及应用

8．1

衍射系统的光规律

8．2

消光规律应用

第9章

x射线衍射分析方法的应用

9．1

x射线物相鉴定

9．2

物相定量分析

9．3

粉末晶体结构分析

9．4

晶粒度及晶格应变的测定第10章

x射线衍射结构分析的新方法——rietveld法

10．1

rietveld方法的基本原理

10．2

rietveld分析的实验方案

10．3

rietveld方法的应用