简介

机构设置

测试项目

学术委员会

简介

华中科技大学分析测试中心成立于2004年，是为华中科技大学的教学与科研活动提供分析测试服务的公共大平台，也是分析测试技术、方法的研发中心，同时还是培养高层次人才的重要实验基地。同时它面向社会开放，积极为地方的科研、经济建设服务。中心将成为一个具备向校内外科学研究、品质鉴定、失效分析、案例判断等提供公正、权威测试能力的重要机构。

分析测试中心的分析测试技术力量较雄厚。 中心现有正式人员10人，合同制人员2人以及学生助管人员。其中：教授/博导1人，副高3人, 中级职称6人，博士学位2人，硕士学位4人。中心设备配套齐全，目前拥有全部进口大型分析测试仪器设备几十台, 总价值3000万人民币。中心占地1500多平方米，基础配套设施齐全，有良好的工作条件。主要测试设备有：透射电子显微镜（含能谱）；场发射扫描电镜（含能谱、电子背散射衍射分析系统和STEM探头）；环境扫描电镜（配有冷、热台附件及能谱分析）；X射线衍射仪（配有冷、热台附件）；X射线荧光探针；核磁共振波谱仪；园二色光谱仪；荧光光谱仪；傅立叶变换显微红外/拉曼光谱联用仪；微波萃取/肖解系统；二维液相色谱－离子阱质谱联用仪等。同时还配备了刻蚀喷镀仪、离子减薄仪、超薄切片机等各类高级制样设备。

机构设置

测试项目

检测项目和范围　检测仪器　检测依据　备注

微区形貌分析　FEI-Quanta 200环境扫描电子显微镜
FEI-Sirion 200场发射扫描电子显微镜
FEI-Tecnai G200透射电子显微镜　JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则　FEI-Quanta 200环境扫描电子显微镜有冷台、热台

微区结构分析　FEI-Tecnai G200透射电子显微镜
X’Pert Pro X射线衍射仪　JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则
JY/T 009-1996 转靶多晶体X射线衍射方法通则　

微区成份分析
（Na11-U92）　FEI-Quanta 200环境扫描电子显微镜
FEI-Sirion 200场发射扫描电子显微镜
FEI-Tecnai G200透射电子显微镜 　JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
JY/T 009-1996 转靶多晶体X射线衍射方法通则　FEI-Sirion 200场发射扫描电子显微镜配有电子背散射衍射分析系统OIM / EBSP

生物表面形貌（态）内部结构及原位成分分析（Na11-U92）　FEI-Quanta 200环境扫描电子显微镜
FEI-Sirion 200场发射扫描电子显微镜
FEI-Tecnai G200透射电子显微镜　JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则　

元素定性分析
（Na11—U92）　FEI-Quanta 200环境扫描电子显微镜
FEI-Sirion 200场发射扫描电子显微镜
FEI-Tecnai G200透射电子显微镜　JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则　

相结构分析
残余应力测试
物相定量分析
点阵常数测定
晶格常数测定 　X’Pert Pro X射线衍射仪　JY/T 009-1996 转靶多晶体X射线衍射方法通则
GB 8360-87 金属点阵常数的测定方法，X射线衍射法　X’Pert Pro X射线衍射仪有冷、热台，可进行相变和热分析

测试样品制备　gatan公司的刻蚀喷镀仪、离子减薄仪、德国莱卡的超薄切片机、组织脱水机、染色机、修块机和美国BUEHLER公司的抛磨机、镶样机、精密切割机等

学术委员会

主 任：谢长生

副主任：宋武林 朱丽华

委 员：杨祥良 徐明厚 龚跃法 李箭 于军 吕文中