| 词条 | 相位剪切电子散斑干涉仪 |
| 释义 | 名称相位剪切电子散斑干涉仪:Phase shift shear interferometer speckles 简介剪切电子散斑干涉术是一种测量离面位移导数场的激光干涉测量新技术。它除了电子散斑干涉术(ESPI，Electronic Speckle Pattern Interferometry)的许多优点外，还有光路简单，对测量环境要求低等特点。由于剪切电子散斑干涉是测量位移导数，因此，在自动消除刚体位移的同时对于缺陷受载的应变集中十分灵敏，因此被广泛地应用于无损检测（NDT, nondestructive testing）领域. 优点使用大功率绿色半导体激光器作光源，具有电子散斑条纹实时处理软件，操作方便，便于携带，可用于现场测量。采用相移技术分析条纹，可获得离面位移导数场的全场数据 技术参数光源：半导体激光器，功率50mW，波长 532nm 定焦镜头： C接口, 配进口25mm定焦镜头 相机： 1280×1024 USB摄像头 工作距离：400～1000mm 光学平台：400mm×900mm 图像采集分辨率：1280×1024 实时条纹显示速度：25帧/s 剪切角： 0°±5°连续可调 小型光学平台 软件： 条纹实时显示，位相分析处理 演示试件： 圆盘受均布载荷。 实验效果图工程应用本仪器可广泛应用于工程力学、土木工程、断裂力学、 岩石力学、生物力学、粘弹性理论、复合材料力学等科研应用领域的无损应力检测 |
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