简介

技术参数

软件设计

简介

TMS是一套全波长的0度角透过率检测仪，能快速准确地测量各类平面光学元件的透射率，可用于实时在线检测，实现产品全检。适用于棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的检测。

技术参数

型号　TMS（I型）　TMS（II型）

探测器　Sony线形CCD 阵列　Hamamatsu背照式2D-CCD

检测范围　380-1000nm　360-1100nm

波长分辨率　1nm　1nm

信噪比（全信号）　250：1　1000：1

相对检测误差　﹤0.5%（400-800nm）　﹤0.2%（400-800nm）

单次测量时间　﹤1s

样品尺寸　≥ Φ3mm

操作系统/接口　Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

电源/功率　220V-50HZ /6W

软件设计

l 智能化软件操作:可自定义测量方式和角度，实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据，自动调整显示坐标范围，高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。

l 谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图，批量保存测量结果，记录谱图测试积分时间，能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作，最大程度地方便了谱图的管理和分析。

l 自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案，同时设置判定标准，使检测更快速，结果更准确。

l 谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库，可根据数据库已存标准数据对比分析结果，用户可自行对数据库进行添加、修改和删除，还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。

l CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数， x，y，L,a,b,饱和度，主波长等。

l 数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图，自定义测量报告出具单位名称。