| 词条 | 射频抗扰度测试系统 |
| 释义 | 简介依据汽车电子产品的射频抗扰度测试标准要求，建立起来的射频抗扰度测试系统。测试项目有自由场测试，大电流注入法测试，带状线法测试，磁场抗扰度测试等。符合最新版本国际及国内标准的要求，全自动测试。 标准ISO 11452-1 2005 ISO 11452-2 2004 ISO 11452-3 2001 ISO 11452-4 2005 ISO 11452-5 2002 GB/T 17619-2008 3ctest测试方法自由场法测试依据标准ISO 11452-2，测试电平：100V/m，频率范围80MHz - 2GHz。该试验方法是将电子电器组件(ESA) 暴露于由天线产生的辐射电磁场中进行试验。试验应在一个电波暗室内的台架上进行。台架应是木质或等效的非导电桌。 横电磁波(TEM)小室法依据标准ISO11452-3，测试电平200V/m，频率范围0.01MHz-200MHz。依据标准ISO11452-3。 大电流注入法测试完全满足ISO11452-4测试标准,支持置换法测试和闭环法测试,支持共模注入和差模注入,全自动测试,使用一个电流注入钳完成全部频率范围的测试 主要技术参数 频率范围100kHz－400MHz 最大测试电平高于200mA 带状线法测试ISO 11452-5规定的50欧姆非对称带状线，能产生最高200MHz的TEM-波。在TEM模式下带状线内部的场强分布是非常均匀的。带状线也能用于200MHz以上，此时工作于高频模式。高频模式下产生的场强特性和位置有关。TEM模式和高频模式的区别在于，TEM模式下，带状线中心的场强最大，到边缘逐渐变小；高频模式下，带状线中心的场强较小，到边缘逐渐增加，另外，在多模操作期间，某些区域的极化方向会改变。 |
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