一、背景

在很多高可靠长寿命产品（电子产品）的性能退化过程中，产品性能退化量随时间的变化极其缓慢，在相当长的试验时间内，退化量的变化极其微小，甚至这种微小的变化还比不上测量误差。在这种情况下，需要采用加速退化试验来预测产品的寿命。

二、定义

采用加大应力（如热应力、电应力和机械应力等）而又不改变产品失效机理的方式使产品退化过程加速，这样的试验被称为加速性能退化试验，或加速退化试验（ADT）。

三、目的

加速性能退化试验的目的是找出产品性能退化如何发生、何时发生的，在保持失效机理（退化机理）不变的条件下，将样品置于比通常条件严酷的环境条件或工作应力下进行加速样品性能退化的试验，以确定系统、子系统、元器件、材料的退化轨迹，从而通过外推的方法得到产品在设计或使用条件下的失效寿命或可靠性。

四、试验假定

试验是否具有加速性是进行加速性能退化试验的关键所在，为保证加速性能退化试验能正常进行需作出以下假定：

1．在各加速应力水平下，产品失效机理（模式）保持不变；

2．存在有规律的加速过程；

3．在各加速应力水平下，产品的退化过程服从同族随机过程，即应力水平变化时，产品退化随机过程保持不变，改变的只是过程参数。