“划测”指的是测试薄膜开关的一种方法，为了测试薄膜开关的功能是否正常，都需要一个个的按按键，来测试按键有没有功能，为了达到较高的测试效率，节省测试成本，需要一种快速地按按键的方法，划测就是其一。

划测的原理：

用一个前面带轮子的小棒（见右图，或其他比较圆滑的东西），在具有规则排列的薄膜开关的按键上依次的滚过去，达到按按键的目的，就像在薄膜开关上划了一下，因此形象的称之谓“划测”，此测试方法具有测试速度快，易制作，成本低。

要进行划测，还必须有两个条件：

第一，按键输入的顺序要与按键排列的方式相同，并且要适合工人操作；

第二，测试仪处理信号的速度要快；

划测的特点：

测试速度快，实际使用时测试82个按键的飞标盘薄膜开关只要15秒钟！

测试成本低，适用于一些量不是超级大的产品测试，不必花钱去做自动化测试设备（如果量少，自动化设备成本是否能收回来还要考虑）；

交货快速，不需要花时间去做自动化的测试治具与测试机架,就可快速的完成测试.