公司简介

广州市昆德科技有限公司是以世界著名的中国半导体物理学家黄昆、谢希德姓名中的最后一字命名的半导体科技公司，2003年10月9日经广州市工商行 政管理局批准成立。公司以原在广州半导体材料研究所，从事半导体材料测试及 仪器开发，长达30多年历史的数位高级工程师及有创业精神的年青大学生为主要 技术力量，以中国老一辈科学家为榜样，为创造出最好性价比的产品而努力工作。

在本公司工作的技术负责人获得过以下的科技成果奖：

1、精密四探针头 1978年全国科学大会奖

2、双光源单晶寿命测试仪 1982年广东省科技成果三等奖

3、三探针外延片电阻率测试仪 1984年广东省科技成果三等奖

4、半导体陶瓷数字电阻仪 1988中国有色金属工业总公司广州公司科技成果一等奖

5、探测器级大直径高阻硅单晶 1991年广东省科技进步二等奖

6、功能材料微区特性测试仪 1994年中国有色金属总公司 科技进步三等奖本公司

科技人员获得的中华人民共和国专利如下：

1、精密四探针头 1986年实用新型 第537号

2、上下探针测试装置 1990年实用新型 第35933号

3、多功能探针头 1994年实用新型 专利号ZL 93 2 17110.9

4、测量电阻率的小游移探针头 2005年实用新型 专利号ZL 03 2 74755.1