| 词条 | 固体材料常用表征技术 |
| 释义 | 基本信息作 者：韩喜江 著 出 版 社：哈尔滨工业大学出版社 ISBN：9787560330440 出版时间：2011-01-01 版 次：1 页 数：306 装 帧：平装 开 本：16开 内容简介《固体材料常用表征技术》分别介绍X射线光电子能谱分析技术，X射线粉末衍射分析技术，俄歇电子能谱分析技术，X射线吸收精细结构分析技术，固体材料的质谱分析技术，电子显微镜分析技术，电子探针X射线显微分析技术，核磁共振波谱分析技术，电子顺磁共振谱分析技术，衍射散射式激光粒度分析技术，氮气吸附分析技术，正电子湮没分析技术，电化学阻抗谱分析技术。《固体材料常用表征技术》既可可作为高等院校化学化工、材料、物理等专业的研究生教材和高年级本科生教材，也可作为相关领域的科研人员和工程技术人员的参考书。 目录第1章 X射线光电子能谱分析技术 1.1 引言 1.2 仪器构造与样品制备 1.2.1 X射线源 1.2.2 超高真空系统（IJHV） 1.2.3 分析器与数据系统 1.2.4 其他附件 1.2.5 灵敏度和检测限 1.2.6 清洁表面制备 1.3 基本原理 1.3.1 XPS的物理基础 1.3.2 XPS谱的结合能参照基准 1.3.3 结合能化学位移 1.4 XPS在化学上的应用及实例解析 1.4.1 定性分析 1.4.2 定量分析 1.5 新技术 1.5.1 单色化XPS（Mono XPS）和小面积XPS（SAXPS） 1.5.2 SAXPS深度剖析 1.5.3 成像XPS（iXPS） 1.5.4 XPS线扫描分析 本章小结 参考文献 第2章 X射线粉末衍射分析技术 2.1 引言 2.2 X射线粉末衍射仪 2.2.1 基本构造 2.2.2 工作原理 2.2.3 试样制备 2.2.4 应用及图例解析 本章小结 参考文献 第3章 俄歇电子能谱分析技术 3.1 引言 3.2 俄歇表面分析技术的基本理论 3.2.1 俄歇过程和俄歇电子 3.2.2 俄歇电子能量与特征谱线的关系 3.2.3 俄歇电子的强度 3.2.4 化学效应 3.3 仪器结构 3.3.1 样品室 3.3.2 电子枪 3.3.3 氩离子枪 3.3.4 电子能量分析器 3.3.5 检测器 3.3.6 真空系统 3.3.7 俄歇电子能谱仪的分辨率和灵敏度 3.4 实验技术 3.4.1 样品的制备技术 3.4.2 离子束溅射技术 3.4.3 样品的荷电问题 3.4.4 俄歇电子能谱的采样深度 3.5 俄歇电子能谱图的分析技术 3.5.1 表面元素定性鉴定 3.5.2 表面元素的半定量分析 3.5.3 表面元素的化学价态分析 3.5.4 深度分析 3.5.5 微区分析 |
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