| 词条 | 电子电路测试与实验 |
| 释义 | 图书信息书 名: 电子电路测试与实验 作 者：朱定华 吴建新 出版社： 清华大学出版社 出版时间： 2007年02月 ISBN: 9787302082859 开本： 16开 定价: 23.00 元 内容简介《电子电路测试与实验》共分4章，包括模拟电路实验、数字逻辑电路实验、OrCAD在电子技术中的应用实验以及在系统可编程技术实验。 图书目录第一章 模拟电路实验 实验1 常用电子仪器的使用 实验2 单级晶体管阻耦合放大电路 实验3 共射-共集晶体管放大电路 实验4 集成运算放大器性能参数的测试 实验5 基本运算放大器电路 实验6 RC有源滤波电路 实验7 函数发生器电路 实验8 差分放大电路 实验9 集成稳压器 实验10 精密全波整流电路 实验11 音响放大器电路 第二章 数字电路实验 实验12 TTL与非门的参数测试 实验13 小规模组合逻辑电路的设计 实验14 中规模组合逻辑电路的设计 实验15 小规模时序逻辑电路的设计 实验16 MSI集成计数器、译码及显示电路 实验17 MSI移位寄存器及应用 实验18 数/模转换及应用 实验19 集成电路定时器555及其应用 实验20 综合实验 实验21 GAL器件在数字系统设计中的应用 第三章 ORCAD在电子技术基础实验中的应用 实验22 单级共射放大电路 实验23 差分放大电路 实验24 负反馈放大器 实验25 波形产生电路 实验26 计数器 第四章 在系统可编程技术实验 实验27 4/2编码器 实验28 BCD/七段显示译码器 实验29 交通类控制器 实验30 多功能电子钟 附录A 常用电子仪器介绍及其使用方法 附录B 常用电子电路元件、器件的识别与主要性能参数 附录C Cadence/pspice9.2.3使用简介 附录D 硬件描述语言ABLE及其开发软件ispLEVER 参考文献 |
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