书 名: 电子电路测试与实验
作 者：朱定华 吴建新
出版社： 清华大学出版社
出版时间： 2007年02月
ISBN: 9787302082859
开本： 16开
定价: 23.00 元
《电子电路测试与实验》共分4章，包括模拟电路实验、数字逻辑电路实验、OrCAD在电子技术中的应用实验以及在系统可编程技术实验。
第一章 模拟电路实验
实验1 常用电子仪器的使用
实验2 单级晶体管阻耦合放大电路
实验3 共射-共集晶体管放大电路
实验4 集成运算放大器性能参数的测试
实验5 基本运算放大器电路
实验6 RC有源滤波电路
实验7 函数发生器电路
实验8 差分放大电路
实验9 集成稳压器
实验10 精密全波整流电路
实验11 音响放大器电路
第二章 数字电路实验
实验12 TTL与非门的参数测试
实验13 小规模组合逻辑电路的设计
实验14 中规模组合逻辑电路的设计
实验15 小规模时序逻辑电路的设计
实验16 MSI集成计数器、译码及显示电路
实验17 MSI移位寄存器及应用
实验18 数/模转换及应用
实验19 集成电路定时器555及其应用
实验20 综合实验
实验21 GAL器件在数字系统设计中的应用
第三章 ORCAD在电子技术基础实验中的应用
实验22 单级共射放大电路
实验23 差分放大电路
实验24 负反馈放大器
实验25 波形产生电路
实验26 计数器
第四章 在系统可编程技术实验
实验27 4/2编码器
实验28 BCD/七段显示译码器
实验29 交通类控制器
实验30 多功能电子钟
附录A 常用电子仪器介绍及其使用方法
附录B 常用电子电路元件、器件的识别与主要性能参数
附录C Cadence/pspice9.2.3使用简介
附录D 硬件描述语言ABLE及其开发软件ispLEVER
参考文献