HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试验)

是测定IC等产品可靠性的一种方法。

随着温度条件的不同，IC产品保持正常性能直至失效前时间的参考标准也不一样。

一般来说，

150℃情况下，IC产品保持正常性能的时间需超过1000小时。

175℃情况下，IC产品保持正常性能的时间需超过400小时。

250℃情况下，IC产品保持正常性能的时间需超过72小时。