该测试仪是为了满足热敏探测器表面响应均匀性测量而提出的。采用调制半导体激光器作为探测器表面辐射源、两次汇聚的光学系统、步进电机控制的二维平台、A/D和I/O板卡结合工控机，自行编制了软件系统。其主要创新点在于：1、光学聚焦系统设计；2、小光点探测和微弱信号的放大和噪声的抑制；3、利用软件定时器实现时序的配合和同步；4、利用步进电机细分控制实现高精度高密度的平面扫描；5、利用调用ActiveX控件技术实现了探测器表面响应的3D图形绘制。