μ子X射线分析：

（muon X －ray analysis）用一定能量的μ-子束射入被研究的物质，根据释放的特征μX 射线来进行物质的化学组成和状态分析的方法。μ-子被原子捕获形成μ子原子时，最初处在主量子数n≈14 的高激发能级上，随后向基态跃迁，释放一系列特征的X 射线，称为μX 射线。它们的能量比相应的电子跃迁释放的X 射线约高200 倍。1949 年中国物理学家张文裕用云室观测铅箔和铁箔对宇宙线中μ子的吸收，根据记录到的电子，首先发现了μX 射线，证实了μ子原子的形成。

μ-子被原子捕获的几率，除了与原子序数有关外，还与化学键的类型有关，根据不同原子放出的特征μX 射线的强度，可以测定化合物的组成。在有了高分辨率的锗（锂）探测器后，发现了化学状态对K 系和L 系中某些条μX 射线的相对强度有影响，因此可以根据测定μX 射线谱的结构来研究物质的化学结构。不同的同位素捕获μ-子后，放出的μX 射线的能量有差别。愈重的元素差别愈明显。铌148 和铌150 的Ka1 线相差达3.7×104 电子伏。根据放出的μX 射线有可能分析重元素的同位素成分。μ子X 射线分析的主要优点是：μ-子能量可以调节，μ-子束经聚焦可将照射范围控制得很小，从而可做局部分析；μX 射线能量高，穿透力比电子X 射线强得多，可以从样品的深部穿出而被探测。因此，可以分区、分层地分析样品的深部。