:JDSACN系统与同类产品相比的优势：

采用国际最先进的三维光学测量技术,达到国外最新产品的技术水平。与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高，单次测量幅面更大（从50mm到3米）、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小。

国际少有同时自主研发出工业摄影测量系统和三维光学扫描系统两套系统,都已申请专利. 强大的全自主软件系统，所有程序代码都有研发团队进行编写，可完全满足客户的制定要求.

简洁的操作界面,全程一健式操作,拼接过程中，实时显示公共标志点，真正的智能拼接,不需第三方软件进行处理, 一机多用，单幅测量幅面从50mm到3米，可以测量几毫米到几十米的工件和物体。

一台测量系统可同时扫描测量小型、中型、大型工件。 系统配备强大后处理功能，可以快速、高精度、自动化完成多幅点云的精确匹配和融合，点云数据量小而细节不丧失.满足逆向设计和产品在线质量检测的不同需求。 全自动智能拼接,精度在国际领先，拼接无分层,配备全局误差控制系统; 也可以与JDSACN-PH工业近景摄影测量系统配合使用，能完成超大物体的测体,精度更高。 非接触式扫描，采用先进结构光编码技术, 避免对物体表面的接触, 可以测量柔软的物体, 对操作者和测量物不会产生任何影响。 扫描速度快，能够在4秒内完成单个幅面1200mm到30MM的测量,获取百万个扫描点, 测量点数据非常规则，测量数据基本无杂点。 适应面广，可以测量大中小各种规格物体 系统综合了大中小三种规格测量系统，既可测量大至汽车车身和客运飞机样的物体，又可测至小至硬币般的物体, 测量物体规格不限。 扫描点云密度可调：针对不同的测量物体要求，系统可自动对点云密度进行调整，获取适合的点云数据。 对测量环境要求低，可以在室内正常环境或者野外工作, 无需暗室。 测量范围大，测量尺寸范围：3毫米~100米 数据接口丰富

支持 ASC, IGES, OBJ, STL, VRML, DXF, MDL, SMF等数据格式, 可以与Pro/E, UG, Imageware, Geomagic , AutoCAD等多种设计软件接口。

20.长期升级和技术支持,全自主研发，以保证系统的长期升级更新和技术支持