IC卡检测仪

X射线IC卡检测仪

X射线IC卡检测仪是使用X射线技术对IC卡进行检测的一种设备，它通过发生X射线，对IC卡进行射线照射，再由设备的成像探测器接收经过照射并穿过IC卡后的X射线，并通过计算机呈现黑白的透视检测画面。

专用的X射线IC卡检测仪目前业内有HSCreate(恒胜创新)的BJI-G型。

X射线IC卡检测仪用途：检测IC磁卡内部的电路、芯片内部焊点、内部导体结构。 IC卡检测仪参数

型号　HSCreate BJI-G

管电压　70kV

管电流　0.4mA

分辨率　227Lp/cm

像元尺寸　1628*1228px

灰度等级　4600级

功率　70W

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本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;

外形尺寸：L670 X W380 X H220

仪器重量：70kg

电 压：AC220V±5%

功 率：35W

测试速度：弯曲 29r/min

测试周期：1~999次

扭曲度 ：15°±1° 双向