| 词条 | 透光率/反射率测定仪 |
| 释义 | 用途用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/绝对 反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。 测量范围棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。 技术参数类别 I型 II型 III型 探测器 Sony ILX511 x线形CCD 阵列 Sony ILX511 x线形CCD 阵列 Hamamatsu S7031背照式2D-CCD 检测范围 380-1000nm 380-1100nm 360-1100nm 波长分辨率 <1.35nm <1.35nm <1.35nm 信噪比（全信号） 250：1 250：1 1000：1 相对检测误差 <0.6%(400-800nm) <0.6%(400-800nm) <0.2%(400-800nm) 操作方式 手动 电动 电动 角度分辨率 0.1 º <0.0002º <0.0002º 重复定位精度： - <0.005 º <0.005 º 旋转最大速度： - 25 º/s 25 º/s 透射/反射测量角 >8º ， <80 º,可扩展到5º 单次测量时间 <100ms S/P光测量 可以 样品尺寸 >5mm 操作系统/接口 Windows XP Vista /USB2.0 产品尺寸 1020mm*485mm*300mm 功率/电源： 100W/220V-50HZ 其他 可自定义打印报表格式，开放式光学材料光坯反射率数据库 |
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