用途

测量范围

技术参数

用途

用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/绝对

反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。

测量范围

棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。

技术参数

类别　I型　II型　III型

探测器　Sony ILX511 x线形CCD 阵列　Sony ILX511 x线形CCD 阵列　Hamamatsu S7031背照式2D-CCD

检测范围　380-1000nm　380-1100nm　360-1100nm

波长分辨率　<1.35nm　<1.35nm　<1.35nm

信噪比（全信号）　250：1　250：1　1000：1

相对检测误差　<0.6%(400-800nm)　<0.6%(400-800nm)　<0.2%(400-800nm)

操作方式　手动　电动　电动

角度分辨率　0.1 &ordm;　<0.0002&ordm;　<0.0002&ordm;

重复定位精度： 　-　<0.005 &ordm;　<0.005 &ordm;

旋转最大速度：　-　25 &ordm;/s　25 &ordm;/s

透射/反射测量角　>8&ordm; ， <80 &ordm;,可扩展到5&ordm;

单次测量时间　<100ms

S/P光测量　可以

样品尺寸　>5mm

操作系统/接口 　Windows XP Vista /USB2.0

产品尺寸　1020mm*485mm*300mm

功率/电源：　100W/220V-50HZ

其他　可自定义打印报表格式，开放式光学材料光坯反射率数据库