基本信息

内容简介

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作　者：（美）布鲁克曼 著 张君施 等 译出 版 社：电子工业出版社ISBN：9787505393684出版时间：2004-01-01版　次：1页　数：312装　帧：平装开　本：16开所属分类：图书 > 计算机与互联网 > 单片机与嵌入式

内容简介

随着软硬件技术的发展，嵌入式系统在生产、生活乃至军工的各个领域应用都日渐广泛，功能也越来越强大，但设备和软件也日趋复杂。本书立足于工业实践， 旨在为有效控制复杂的嵌入式软件测试过程提供解决方案。书中全面讲述了嵌入式软件测试的一般过程，内容包括结构化测试和嵌入式系统的原理、测试生命周期、重要的应用技术、基础设施、测试组织形式和测试原则。本书在测试设计技术和测试组织方面的精辟论述，将会对软件测试的规范化和高效化大有帮助。