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词条 开短路测试
释义

名词解释:

开短路测试(又称OPEN/SHORT 测试,O/S测试),主要是用于测试电子器件的连接情况,顾名思义,开短路测试就是测试开路与短路,具体点说就是测试一个电子器件应该连接的地方是否连接,如果没有连接上就是开路,如果不应该连接的地方连接了就是短路。

用途:

开短路测试应用非常的广泛,例如:测试PCB板,测试IC邦定线,测试IC的封装,测试线材,测试FPC,测试薄膜开关,测试连接器等等,不同的应用又有比较特别的需求,例如,测试PCB板是不仅要测试开短路,还要测试漏电,测薄膜开关还要测试连线的电阻值;对于线材测试仪,比较精密的线材根据要求,有些也要测试漏电与阻值及其他的要求,由于这些测试不仅要测试开短路,还要测试其他的参数,因此都有专用的仪器,如ICT,薄膜开关测试仪,线材测试仪等。

词意变化:

如果没有特别的指出,所谓的开短路测试,都是指测试邦定线的开短路测试,IC的开短路测试,例如“开短路测试仪”指的就是测试邦定/IC开短路的仪器,当然所处的行业不同,在不同的行业中,说开短路测试就是指的这个行业的产品的开短路测试,如果是一间PCB厂,说要进行开短路测试,指的就是测试PCB的线路的开短路,不能理解成测试测试IC的开短路了!

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更新时间:2025/3/20 18:34:00