基本信息

内容简介

作者简介

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基本信息

·作者：(美)莫瑞达(Samiha Mourad) (美)佐瑞安 (Yervant Zorian)

·译者：张威 王仲 等

·出版社：机械工业出版社

·页码：296 页

·出版日期：2007年01月

·ISBN：7111198085/9787111198086

·条形码：9787111198086

·版本：第1版

·装帧：平装

·开本：16开

·丛书名：电子与电气工程丛书

内容简介

本书全面阐述了电子系统测试原理，共分为五个部分，第1部分介绍本书的目的、电子产品的缺陷种类、VLSI设计表示与设计流程；第II部分介绍故障模拟、测试码产生及电流测试方法；第III部分讨论易测性设计问题，分别介绍专用技术、路径扫描设计、边界扫描测试和内建自测试技术；第IV部分介绍特殊结构的测试，包括存储器、FPGA和微处理器的测试；第v部分涉及当前电子系统测试领域中的前沿问题，包括如何实现易测试性结构和进行SOC试。

本书可作为电子信息类专业研究生教材和IC测试工程技术人员的参考书。

作者简介

Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。

Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。

目录

第I部分 设计与测试

第1章 测试综述

第2章 缺陷、失效和故障

第3章 设计表示

第4章 VLSI设计流程

第II部分 测试流程

第5章 测试中模拟的角色

第6章 自动测试码生成

第7章 电流测试

第III部分 易测试性设计

第8章 专用技术

第9章 路径扫描设计

第10章 边界扫描测试

第11章 内建自测试

第IV部分 特殊结构

第12章 存储器测试

第13章 FPGA与微处理器的测试

第V部分 高级论题

第14章 易测试性综合

第15章 SOC测试

附录A 参考书目

附录B 缩写词表