基本介绍

大平台检测显微镜 是专为IT行业大面积集成电路，分为XLE-1、XLE-2、XLE-3三种型号。晶片的质量检测而设计开发制造的。主体为：正置式、三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储、查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。

基本特点

1、放大倍数：40倍至500倍。

2、超大型载物台，样品可作大范围的纵、横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围。

3、可以与OVM-TM软件搭配使用。

技术参数

1、机械筒长 160mm

2、物镜

放大倍数　数值孔径　有效工作距离（mm）　介质

4×　0.10　17.912　干

10×　0.25　6.544　干

20×　0.40　1.05　干

40×　0.65　0.736　干

3、目镜

放大倍数　焦距　视场直径　备注

10×　25　18　

12.5×　25　14　选配

4、放大倍数 40×--500×

5、载物台面积 350mm×255mm 纵向移动范围---200mm 横向移动范围---200mm

6、粗微动调焦范围 25mm，微调转动一圈样品升降0.2mm，格值0.002mm

7、光源 钨卤素灯6V20W，内藏式连续调光电源。

8、物镜转换器 四孔式 (三孔式)。

9、目镜筒 三目镜 (双目镜)。

应用领域

广泛应用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，失效分析等。