词条 | X射线单晶面探仪 |
释义 | X射线单晶面探仪 安放地点: 10号楼一层 主要用途: 测定物质分子在低温或室温下的晶体结构和分子结构,确定物质分子中原子在空间的位置和排列,了解原子或分子间的相互作用。 对从分子结构出发设计分子器件,探索功能材料与结构的关系,新型催化剂的催化机理,纳米材料性能的解释具有指导作用。 仪器类别: 0303050202 /仪器仪表 /成份分析仪器 /四圆单晶X射线衍射仪 指标信息: 额定功能:18KW 额定电压:20KV~60KV 最大额定电流:300mA IP检出面积:466×256mm 像素尺寸:100×100μm 测角范围:2θ=-60°~144° 附件信息: 低温附件最低温度-180℃,温度精度±0.5,不用液氮,在X,Y,Z方向上调整喷气位置,并配有国际晶体学会晶体结构数据库(英国剑桥) |
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