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词条 X射线晶体分析仪
释义

用途:

照相:利用背射劳厄照相,底片安装在晶体与射线源之间,而入射光束则在底片上的小孔通过,所记录的为向后方向上的衍射光束,用衍射光束的方向来测量未知晶体单位晶胞的的形状和大小,以测定晶体的取向和评定晶体的完善性。

定向:对晶体材料进行精确测角定向,利用X射线通过前置单色器,衍射线被单色化后照射到样品上,符合公式nλ=2dsinθ时产生衍射,被计数管接收放大,通过表显示强度,测角仪读出准确角度值。

主要参数

电 源  AC220V 50HZ 30A

功 率  2KW

靶 材  Cu

管电压  50KV (连续可调)

管电流  50mA (连续可调)

制 冷  循环水、制冷水箱

防 护  铅有机玻璃防护罩

照 相

相 机  背反射劳厄相机

照相方式  自动定时(倒计时)

定时时间  ( 1 秒~ 9999 秒)

定 向

方 式  高精度(前置单色器)

测角范围  θ 10 °~ 50 °、 2 θ 10 °~ 100 °

显示器  数字显示,度、分、秒

显示精度  1 ″

光 闸  脚踏电磁光闸

分辨率  ± 15 ″(优于)

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更新时间:2025/3/14 11:28:30