词条 | X射线晶体分析仪 |
释义 | 用途: 照相:利用背射劳厄照相,底片安装在晶体与射线源之间,而入射光束则在底片上的小孔通过,所记录的为向后方向上的衍射光束,用衍射光束的方向来测量未知晶体单位晶胞的的形状和大小,以测定晶体的取向和评定晶体的完善性。 定向:对晶体材料进行精确测角定向,利用X射线通过前置单色器,衍射线被单色化后照射到样品上,符合公式nλ=2dsinθ时产生衍射,被计数管接收放大,通过表显示强度,测角仪读出准确角度值。 主要参数 电 源 AC220V 50HZ 30A 功 率 2KW 靶 材 Cu 管电压 50KV (连续可调) 管电流 50mA (连续可调) 制 冷 循环水、制冷水箱 防 护 铅有机玻璃防护罩 照 相 相 机 背反射劳厄相机 照相方式 自动定时(倒计时) 定时时间 ( 1 秒~ 9999 秒) 定 向 方 式 高精度(前置单色器) 测角范围 θ 10 °~ 50 °、 2 θ 10 °~ 100 ° 显示器 数字显示,度、分、秒 显示精度 1 ″ 光 闸 脚踏电磁光闸 分辨率 ± 15 ″(优于) |
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