X 射线小角散射（small-angle x-ray scattering，简称：SAXS）是在靠近原光束附近很小角度内电子对X 射线的漫散射现象，也就是在倒易点阵原点附近处电子对X 射线相干散射现象. 在20 世纪 30 年代，Mark、Hendricks和Warren 观察纤维素和胶体粉末时发现了SAXS 现象并提出了 SAXS 的原理.此后，Kratky、Guinier、Hosemann、Debye和Porod 等相继建立和发展了 SAXS 理论并确立了SAXS 的应用. 至今他们的理论仍然是SAXS 方法研究高分子结构的基础. 理论证明，小角散射花样、强度分布与散射体的原子组成以及是否结晶无关，仅与散射体的形状、大小分布及与周围介质电子云密度差有关.可见，小角散射的实质是由于体系内电子云密度起伏所引起.

小角X射线散射（Small Angle X-Ray Scattering, SAXS）是研究纳米尺度微结构的重要手段。根据SAXS理论，只要体系内存在电子密度不均匀（微结构，或散射体），就会在入射X光束附近的小角度范围内产生相干散射，通过对小角X射线散射图或散射曲线的计算和分析即可推导出微结构的形状、 大小、分布及含量等信息。这些微结构可以是孔洞、粒子、缺陷、材料中的晶粒、非晶粒子结构等，适用的样品可以是气体、液体、 固体。同时，由于X射线具有穿透性，SAXS信号是样品表面和内部众多散射体的统计结果。相对于其它纳米尺度分析表征手段，如SEM、TEM、AFM而言，SAXS具有结果有统计性、测试快速、无损分析、制样简单、适用范围广等优点。