简介

参数

简介

相移栅线投影测量仪可用于物体表面三维形貌和变形测量。由于该系统既可配备10倍变焦远距离显微成像镜头，也可配备普通变焦镜头，使得该系统能同时满足细观及宏观的测量要求。不仅可用于微电子、生物、微机械等微细结构的形貌及变形测量，也可用于混凝土结构、岩土试样等大型构件表面形貌和变形测量。系统配有专用的相移条纹图像处理软件，使得系统测量精度明显提高，并且使用方便、操作简单。

参数

1、 正弦栅线密度：任意可调

2、 摄像头分辨率：1280×1024

3、 成像镜头：f25mm

4、 摄像头分辨率：1280×1024

5、 测量距离（f25镜头）：300mm～1200mm

6、 测量分辨率（X、Y最大尺寸的）：1/1000（X、Y方向），1/20000（Z方向）

7、 三维形貌最大测量范围：X、Y（300mm×300mm），Z（100mm）