词条 | 清华大学测控技术与仪器系列教材:测试智能信息处理 |
释义 | 基本信息 作 者: 王雪 编 出 版 社: 清华大学出版社 ISBN: 9787302165750 出版时间: 2008-01-01 版 次: 1 页 数: 545 装 帧: 平装 开 本: 16开 所属分类: 图书>教材教辅>大学教材教辅 内容简介 智能计算是测试智能信息处理的核心技术,是目前多学科研究和应用的热点,涉及测试技术、电子技术、计算机技术、控制技术等,具有广泛的应用前景。测量技术是信息处理的关键和基础。《清华大学测控技术与仪器系列教材:测试智能信息处理》介绍了测试系统的组成、特点以及信号测量处理的过程,给出了数据融合的基本方法,重点介绍了测试智能计算的基础理论和方法。具体内容包括测试系统的组成和信息获取的过程、智能计算的产生和发展、数据融合的基本原理;神经网络计算的基础、神经计算的基本方法、神经计算的实现技术和支持向量机;模糊计算中的模糊逻辑与模糊推理、模糊计算应用和粗糙集;进化计算中的遗传算法、粒群智能、蚁群智能等方法和实例。 《清华大学测控技术与仪器系列教材:测试智能信息处理》可作为测控技术、电子科学技术、计算机科学技术、电气工程、控制技术、信息通信技术、机械电子工程等专业的研究生、高年级本科生的教材和参考书,也可供相关工程技术人员和科技工作者作为专业参考书。 |
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