PIXE=Particle Induced X-ray Emission 粒子诱发X射线荧光分析

1. 粒子诱发x射线荧光分析（PIXE）是粒子束分析的一个重要分支。

2.其开创者是Sven A. E. Johansson等人[1]，于1970年首次开展这方面的工作，并为人们所重视，且日益广泛的被大家采用。

3. PIXE分析具有灵敏、快速、取样少和无损分析等特点。

4. 该方法对大多数元素（Z≥12）是很灵敏的其相对灵敏度为PPm（即百万分之一）量级，可检测的元素含量的下限为10-16g。

原理：粒子束与原子相互作用的物理图像。如右图

PIXE分析的特点：

元素的鉴定一般在z≥12;

能够分析含量少浓度低的元素；

一次测量可探知多种元素；

灵敏度随原子序数平滑变化；

非破坏性快速分析，且可以定量和绝对定标；

可采用微束。

应用：

环境污染的监测；

生物和医学样品的分析；

考古研究；

超重元素的探测；

质子微束及质子显微镜。