中文名称

英文名称

概述

结构及原理

偏光镜的使用方法

应用及现象解释(1、均质体 2、非均质体 3、多晶质宝石 4、特殊现象)

局限性

中文名称

偏光仪

英文名称

Polariscope

概述

是一种操作简便、结构简单的宝石鉴定仪器，主要用来检测宝石的光性，还可以判断宝石的轴性、光性符号及检查宝石的多色性。

结构及原理

由上下偏光片和光源组成。此外还可配有玻璃载物台、干涉球和凸透镜。光源一般采用普通白炽灯，有时在光源箱前侧开一个狭窄的窗口，也可以为折射仪提供光源。偏光镜在设计时通常采用下偏光片固定，上偏光片可以转动，从而调整偏光方向。

当自然光通过下偏光片时，即产生偏光，若上下偏光方向平行，来自下偏光片的偏振光全部通过，则视域亮度最大；若上下偏光方向垂直，来自下偏光片的偏振光全部被阻挡，此时视域最暗，即产生消光。

偏光镜的使用方法

1.清洁宝石，观察宝石是否透明。

2.打开偏光镜电源开关，旋转上偏光片直至消光位置。

3.将宝石放在下偏光片上方的载物台上，在水平方向上转动宝石360°，观察宝石明暗变化。

应用及现象解释

1、均质体

当自然光通过下偏光片透过宝石时，光的振动方向不发生变化，仍为偏振光。通过上偏光片后，光全部被阻挡。因此转动宝石在视域中呈全暗（消光）。

2、非均质体

晶体中除等轴晶系宝石外，都为非均质体。当待测宝石为非均质体时，在正交偏光镜下，转动宝石，会出现四明四暗现象。这是因为非均质体具有将光分解成振动方向相互垂直的两束偏光的性质（光轴方向除外）。

双折射宝石在上下偏光的共同作用下，由消光与干涉效应综合作用而产生的特殊图案，成为干涉图。根据干涉图的形状可以判断宝石的轴性。

一轴晶干涉图为一个黑十字加上围绕十字的多圈干涉色色圈。

二轴晶干涉图分为两种，即双光轴干涉图和单光轴干涉图。

3、多晶质宝石

多晶非均质集合体宝石在正交偏光镜下，转动360°，宝石在视域中是明亮的。多晶集合体中大量晶体杂乱排列，不同晶体将光分解后，产生的偏振光振动方向也杂乱无章，各个方向都有，近似自然光。聚片双晶发育的宝石情况类似。

多晶均质集合体宝石在正交偏光镜下，转动360°，宝石在视域中全暗。

4、特殊现象

（1）异常消光

许多均质体宝石在正交偏光下出现不规则的明暗变化，这种现象称为异常消光，由于在均质体宝石中出现异常双折射造成的。

（2）全暗假象

有些高折射宝石如钻石、锆石、CZ等，若切工良好，台面向下放置时几乎没有光线能够穿过，那么无论宝石为均质体或非均质体，均会呈现全暗的假象。

（3）其他假象

某些透明的单晶宝石有较多的明显的裂隙或含有大量的包体，裂隙和包体影响光的传播，难以判断光性。

局限性

1、不适用于不透明的宝石。

2、含有大量的裂隙或包体的透明宝石，测试的可靠性较差。