词条 | 能量色散型X射线荧光分析仪 |
释义 | ROHS ValidatorROHS Validator 能量色散型X射线荧光分析仪——高灵敏度高精度测定有害物质 世界上最先进仪器第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪来自于中国仪器超市(www.cimart.com.cn),采用世界上最先进的硅SIPIN探测器(分辨率为150ev),实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管,最大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距,从而在较低的电压下达到同样的激发效率,同时减少了漫射光的干扰,大大地提高了灵敏度和读数的准确性,重复性。 性能特点高灵敏度---自动切换4种滤光片 在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出最具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。 自动定性分析A, 自动过滤背景 X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰, 从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。 B, 自动剥离重叠峰 当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由 此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。 C, 自动补偿逃逸峰 逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素 的含量较高(能量也会相应的较高),其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量 值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。 D, 自动追踪谱图漂移 在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。 定量分析A,FP基础参数法 B,标准法 C,1点校正 主要技术指标分析原理 能量色散X射线荧光分析法 分析元素 Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型) Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型) 检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm 样品形状 最大460×380mm(高150mm) 样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体 样品室气氛 大气 X射线管 靶材 Rh 管电压 最大50KV 管电流 最大1mA X射线照射径 1/3/5mm 防护 <0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕) 检测器 硅SIPIN探测器 光学图像观察 倍率15倍 软件 定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移) 照射径: 1/3/5mm 定量分析: 基础参数法/标准法/1点校正 计算机 CPU PentiumIV1.8GHz以上 内存 256MB以上 硬盘 20GB以上 OS WindowXP 监视器 17寸LCD 周围温度 10~35。C(性能温度)/5~40。C(动作温度) 周围湿度 5~31。C时温度范围:最大相对湿度80%以下 31~40。C时温度范围:相对湿度50%以下 电源 AC110V/220V±10%、50/60HZ 消耗电力 1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机) 设备重量 约65kg(不含桌子、计算机) 外形寸法 600(W)×545(D)×435(H)mm |
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