| 词条 | 逻辑器件测试速度 |
| 释义 | § 逻辑器件测试速度 逻辑器件测试速度是指测试仪每秒可向被测器件输入端施加多少个测试向量（Test Vector），即TV/S，这是衡量测试仪性能的重要指标，速度越快越好，表明测试仪的档次越高，HN2000/MX最高可达610KTV/S（国外测试仪Pinpoint达10MTV/S，QT200达500KTV/S。）。该指标应准确、稳定，不随微机的档次而变。该指标的主要作用是解决同一型号但不同类型逻辑器件采用同一测试速度有时不能测试成功的问题。 § 相关条目 |
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